高分子材料の物性値解析方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-267984
公開番号（公開出願番号）：特開2006-084261
出願日： 2004年09月15日
公開日（公表日）： 2006年03月30日
要約：

【課題】データのばらつきも少なく、精度も高い解析方法を高分子材料に提供する。【解決手段】特定の高分子材料に関して予め準備されたラマンスペクトル値と物性値との関係を表す検量線をリファレンスとして前記特定の高分子材料と同種の被解析高分子材料の物性値を解析する方法であって、前記被解析高分子材料のラマンスペクトルを測定する工程と、このラマンスペクトルから前記リファレンスにおけるのと同種のスペクトル値を算出する工程と、このスペクトル値に対応する物性値を前記リファレンスを用いて解析する工程とからなる高分子材料の物性値解析方法。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

特定の高分子材料に関して予め準備されたラマンスペクトル値と物性値との関係を表す検量線をリファレンスとして前記特定の高分子材料と同種の被解析高分子材料の物性値を解析する方法であって、前記被解析高分子材料のラマンスペクトルを測定する工程と、このラマンスペクトルから前記リファレンスにおけるのと同種のスペクトル値を算出する工程と、このスペクトル値に対応する物性値を前記リファレンスを用いて解析する工程とからなる高分子材料の物性値解析方法。

IPC (1件)：

G01N 21/65

FI (1件)：

G01N21/65

Fターム (8件)：

2G043AA03 , 2G043BA14 , 2G043EA03 , 2G043KA01 , 2G043NA11 , 4C081AB05 , 4C081CA02 , 4C081CC08

引用特許：

審査官引用 (4件)

結晶体のひずみ測定装置およびその方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-112150 出願人：三菱マテリアル株式会社, 三菱マテリアルシリコン株式会社
残留応力の測定方法及び該方法に使用する測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-001073 出願人：住友金属工業株式会社
高強度ポリエチレン繊維
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-253449 出願人：東洋紡績株式会社

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