特許
J-GLOBAL ID:200903080641036993

焦電素子の特性評価装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 安藤 淳二
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-355739
公開番号(公開出願番号):特開2003-156407
出願日: 2001年11月21日
公開日(公表日): 2003年05月30日
要約:
【要約】【課題】 赤外線が各受光部を順次横切る際のダイナミックな特性を評価することができる焦電素子の特性評価装置及び方法を提供する。【解決手段】 受光面に複数の受光部1を有する焦電素子2の特性評価装置において、焦電素子2の受光面に赤外線3を照射するための赤外線照射手段4と、所定の赤外線照射エリア5を形成するための照射エリア形成手段6と、照射エリア形成手段6により形成される赤外線照射エリア5を焦電素子2の受光面に対して相対移動させる照射エリア走査手段7と、照射エリア走査手段7により相対移動される際の同焦電素子2による出力の時間的変化を表す出力波形と予め記憶された基準波形とを比較する波形評価手段8と、を備えてなる。
請求項(抜粋):
受光面に複数の受光部を有する焦電素子の特性評価装置であって、焦電素子の受光面に赤外線を照射するための赤外線照射手段と、所定の赤外線照射エリアを形成するための照射エリア形成手段と、該照射エリア形成手段により形成される赤外線照射エリアを焦電素子の受光面に対して相対移動させる照射エリア走査手段と、該照射エリア走査手段により相対移動される際の同焦電素子による出力の時間的変化を表す出力波形と予め記憶された基準波形とを比較する波形評価手段と、を備えてなる焦電素子の特性評価装置。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  G01J 1/02
FI (2件):
G01M 11/00 T ,  G01J 1/02 Y
Fターム (5件):
2G065AA04 ,  2G065AB02 ,  2G065BA13 ,  2G065DA02 ,  2G086EE04
引用特許:
審査官引用 (6件)
  • 特開平3-041305
  • 特開平2-036391
  • 赤外線センサの動作試験装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平7-128085   出願人:松下電工株式会社
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