光学素子に関する波長依存情報の測定システム及びその測定方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：上野英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-034281
公開番号（公開出願番号）：特開平11-287739
出願日： 1999年02月12日
公開日（公表日）： 1999年10月19日
要約：

【要約】【課題】元の位置で遠隔測定も可能な光学素子に関する波長依存情報を決定する。【解決手段】事象損失、反射率、中心波長、クロストーク、指向性、アイソレーション等の光学素子の波長依存情報を測定する本発明の一実施例では、複数の異なる波長の光信号を光学素子の光学構造と連結するリンクへ提供する発光源と光学構造から戻る時間に対して後方散乱又は反射率を測定する測定装置と該測定結果を処理し、波長依存情報を生成する処理装置からなる。特に、光学ネットワークの空間的構造に光学素子に対しては空間特性を示す空間情報と関連付けて波長依存情報を得ることができる。

請求項（抜粋）：

光学構造の光学素子に関する波長依存情報(好ましくは、事象損失、反射率、中心波長、クロス・トーク、指向性、アイソレーション)を決定するための測定システムであって、複数の異なる波長の光信号を、光学素子に光学的に接続している光リンクに供給するための少なくとも1つの発光源と、後方散乱及び/または反射信号と光学構造から戻る時間の測定を行うための測定装置を含み、異なる波長の複数の前記光信号について測定された、測定信号対時間に処理を施すことによって、光学素子に関する波長依存情報を決定するたるための処理装置を具備することを特徴とする光学素子に関する波長依存情報の測定システム。

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭63-030739
光分岐手段の特性評定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-204928 出願人：安藤電気株式会社
特開昭63-030739

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