特許

J-GLOBAL ID：200903080842978504

ATMスイッチ過負荷試験装置

発明者： 濱川 恭央 ,  鈴木 晃二 ,  ▲高▼木 康志 ,  尾島 仁志 ,  岡本 康史 ,  片倉 斉
出願人/特許権者： 日本電気株式会社 ,  日本電信電話株式会社 ,  株式会社日立製作所 ,  沖電気工業株式会社 ,  富士通株式会社
代理人 (1件)： 井出 直孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-173327
公開番号（公開出願番号）：特開平7-030552
出願日： 1993年07月13日
公開日（公表日）： 1995年01月31日
要約：

【要約】【目的】 ATMスイッチ過負荷試験装置のハードウェア規模を縮小する。【構成】 原始負荷セル発生回路から発生された原始負荷セルを被試験ATMスイッチの入力ポート数分複写して、このヘッダにルーティング情報を付与して負荷セルとする。この負荷セルを入力ポート対応に出力する。【効果】 ATMスイッチ過負荷試験装置の装置価格が低減される。

請求項（抜粋）：

複数の入力ポートを備えたATMスイッチの入力ポート対応にそれぞれ試験用の負荷セルを与える手段を備えたATMスイッチ過負荷試験装置において、ヘッダ情報を含まない原始負荷セルを時系列的に少なくとも一つづつ発生させる原始負荷セル発生手段と、この原始負荷セル発生手段により発生された原始負荷セルを少なくとも前記入力ポートに対応する数に複写する手段と、この複写する手段により複写された原始負荷セルにそれぞれヘッダ情報を付与して前記負荷セルとする手段とを備えたことを特徴とするATMスイッチ過負荷試験装置。

IPC (3件)：

H04L 12/28 ,  H04L 12/26 ,  H04Q 3/00

FI (2件)：

H04L 11/20 H ,  H04L 11/12

引用特許：

審査官引用 (3件)

• ATM試験方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-268229   出願人：富士通株式会社
• 特開平3-071750
  
• ATM網におけるセルコピー装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-300041   出願人：富士通株式会社