特許
J-GLOBAL ID:200903081096986268

非導電材料内でのカチオン-電子の侵入及び衝突のためのシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松井 光夫
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-516000
公開番号(公開出願番号):特表2008-502568
出願日: 2005年06月15日
公開日(公表日): 2008年01月31日
要約:
本発明は、低エネルギでH+イオンと電子との衝突が生じるのを促進するために、H+イオンと電子を非導電性材料(2)内に侵入する装置に関する。具体的には、本発明は、水素含有化合物(3)及び少なくとも1個のカソード(4)から出る少なくとも1個のH+イオンと少なくとも1個の電子を衝突させる装置に関し、その装置は、前記水素含有化合物(3)から前記H+イオンを引き抜き、かつ、前記H+イオンを前記カソード(4)に向かって移行させるための少なくとも1つの電磁界発生器、及び、前記水素含有化合物の少なくとも一部分と前記カソード(4)との間に配置された少なくとも1つの非導電性材料、と含み、前記衝突は前記非導電性材料内で起こることを特徴とする。【選択図】図2
請求項(抜粋):
水素含有化合物及び少なくとも1個のカソードから出る少なくとも1個のH+イオンと少なくとも1個の電子を衝突させる装置であって、前記装置は、 前記水素含有化合物から前記H+イオンを引き抜き、前記H+イオンを前記カソードに向かって移行させるための少なくとも1つの電磁界発生器と、及び、 前記水素含有化合物の少なくとも一部分と前記カソードとの間に配置された少なくとも1つの非導電性材料とを含み、 前記衝突は前記非導電性材料内で起こる、ことを特徴とする装置。
IPC (3件):
C01B 3/00 ,  B01J 19/08 ,  H01M 8/06
FI (4件):
C01B3/00 A ,  B01J19/08 A ,  H01M8/06 R ,  C01B3/00 B
Fターム (14件):
4G075AA03 ,  4G075AA13 ,  4G075AA22 ,  4G075BC10 ,  4G075CA14 ,  4G075FB04 ,  4G075FB06 ,  4G075FC11 ,  4G075FC15 ,  4G140AA04 ,  4G140AA11 ,  4G140AA42 ,  5H027AA02 ,  5H027BA00
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 米国特許第4,466,820号
審査官引用 (3件)

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