特許
J-GLOBAL ID：200903081134898165
アクセスを制限した回路テストにおいて刺激位置を選択するための方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
古谷 馨 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-290335
公開番号（公開出願番号）：特開2000-121700
出願日： 1999年10月12日
公開日（公表日）： 2000年04月28日
要約：
【要約】【課題】ホ ゙ート ゙上の全ノート ゙にアクセスすることなく、許容差を有する回路ホ ゙ート ゙上の個別コンホ ゚ーネントをテスト可能なシステムを提供する。【解決手段】ホ ゙ート ゙上の全ノート ゙に完全にアクセスすることなく、許容差を有する回路ホ ゙ート ゙上の個別コンホ ゚ーネントをテストすることができるシステムが開示される。システムは、基板のモテ ゙ル、コンホ ゚ーネントの許容差、及びアクセス可能ノート ゙のリストからテスト限界を生成する方法を使用する。検討対象とするコンホ ゚ーネントの数を制限することによってテスト問題の複雑さを軽減する方法も開示される。また、検討対象とするノート ゙の数を制限することによってテスト問題の複雑さを軽減する方法も開示される。さらに、ホ ゙ート ゙に刺激を与えるためにノート ゙を選択する方法も開示される。最後に、テスタハート ゙ウエアに関連する所定の寄生効果を補正する方法が開示される。
請求項（抜粋）：
アクセス不能ノードを有するコンポーネント・グループにおいて刺激位置を選択する方法であって、(a)第1の刺激位置に関連した第1の枝電圧の組を計算するステップであって、前記コンポーネント・グループの各コンポーネントに関連した前記第1の枝電圧の組に、第1の枝電圧が存在し、前記第1の刺激位置にアクセス不能ノードに対する接続が含まれていないことからなる、ステップと、(b)第2の刺激位置に関連した第2の枝電圧の組を計算するステップであって、前記コンポーネント・グループの各コンポーネントに関連した前記第2の枝電圧の組に、第2の枝電圧が存在し、前記第2の刺激位置にアクセス不能ノードに対する接続が含まれていないことからなる、ステップと、(c)前記第1の枝電圧の組に基づいて第1の性能指数を計算するステップと、(d)前記第2の枝電圧の組に基づいて第2の性能指数を計算するステップと、(e)前記第1の性能指数と前記第2の性能指数に基づいて選択刺激位置を選択するステップを含む方法。
引用特許：
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