製造装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：小野由己男 , 加藤秀忠 , 山下託嗣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-126199
公開番号（公開出願番号）：特開2004-331107
出願日： 2003年05月01日
公開日（公表日）： 2004年11月25日
要約：

【課題】類似の商品を製造あるいは検査する場合にユーザー(操作者)にかかる操作負担を軽減することができる製造装置を提供する。【解決手段】計量装置92および製袋包装機93は、商品の製造を行う製造装置であって、操作表示装置80と、CCDカメラ82と、表示制御部とを備えている。操作表示装置80は、操作の入力を受けつける。また、この操作表示装置80は、計量や製袋包装に関する情報を表示するタッチパネル81を有している。CCDカメラ82は、操作表示装置80に内蔵されている。表示制御部は、CCDカメラ82で撮影した映像をタッチパネル81に表示させる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

商品の製造あるいは検査を行う製造装置であって、前記製造あるいは検査に関する情報を表示するモニタを有し、操作の入力を受けつける操作部と、前記操作部に内蔵あるいは前記操作部の近傍に配置されるカメラと、前記カメラで撮影した映像を前記モニタに表示させる映像表示手段と、を備えた製造装置。

IPC (2件)：

B65B57/00 , H04N7/18

FI (2件)：

B65B57/00 A , H04N7/18 B

Fターム (13件)：

5C054AA05 , 5C054CA04 , 5C054CC02 , 5C054CE04 , 5C054CE16 , 5C054CF01 , 5C054CH01 , 5C054FA04 , 5C054FA07 , 5C054FE18 , 5C054GB13 , 5C054GD03 , 5C054HA03

引用特許：

審査官引用 (6件)

高周波アルミシールの非接触検査法
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-018262 出願人：クノール食品株式会社, 味の素株式会社
容器検査装置および容器
公報種別：公開公報出願番号：特願2001-288852 出願人：株式会社キリンテクノシステム
商品処理装置の稼働状況チェックシステム
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-140280 出願人：株式会社イシダ

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