特許
J-GLOBAL ID：200903081561192770

焦点検出装置、測距装置及び光学機器

発明者：
吉田 智一

吉田 智一 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 中村 稔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-276422
公開番号（公開出願番号）：特開2000-089091
出願日： 1998年09月14日
公開日（公表日）： 2000年03月31日
要約：
【要約】【課題】 多数の焦点検出領域を有するものにおいても、高速かつ正確な焦点情報の検出を行えるようにする。【解決手段】 画面内に複数の焦点検出領域を持ち、前記複数の焦点検出領域にて得られる出力を基に焦点検出動作を行う演算手段を有する焦点検出装置において、前記演算手段は、前記複数の焦点検出領域を複数のグループに分割すると共に、これら各グループに演算処理の優先順位を設け、優先順位の高いグループから順に演算処理及びその評価を実施していくが、前記評価の結果、所定の評価値を満足すればその時点で演算処理を終了(#217→#218→#221→#222)する。【解決手段】
請求項（抜粋）：
画面内に複数の焦点検出領域を持ち、前記複数の焦点検出領域にて得られる出力を基に焦点検出動作を行う演算手段を有する焦点検出装置において、前記演算手段は、前記複数の焦点検出領域を複数のグループに分割すると共に、これら各グループに演算処理の優先順位を付け、優先順位の高いグループから順に演算処理及びその評価を実施していくが、前記評価の結果、所定の評価値を満足するグループが存在すればその時点で演算処理を終了することを特徴とする焦点検出装置。
IPC (3件)：
G02B 7/28 ,  G03B 13/36 ,  G03B 17/00
FI (3件)：
G02B 7/11 N ,  G03B 17/00 ,  G03B 3/00 A
Fターム (10件)：
2H011AA01 ,  2H011BA21 ,  2H011BB00 ,  2H051CE16 ,  2H051DA03 ,  2H051DA08 ,  2H051DA18 ,  2H051DA26 ,  2H051DA31 ,  2H051DA32
引用特許：
審査官引用 (10件)
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