特許
J-GLOBAL ID:200903081609898246

太陽光評価方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岡崎 謙秀 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-251447
公開番号(公開出願番号):特開2002-062188
出願日: 2000年08月22日
公開日(公表日): 2002年02月28日
要約:
【要約】【課題】 任意地点における日影および反射光を簡易に評価、把握することのできる、新しい太陽光評価方法およびその装置を提供する。【解決手段】 評価地点において撮影した半球面像(s1)から評価対象となる評価画像領域を切り出し(s2)、評価地点の緯度、経度、方位角、傾斜角に従った太陽軌跡を取得し(s3)、この太陽軌跡と評価画像領域との重合せ画像を作成し(s4)、この重合せ画像から、評価画像領域内に存在する評価地点周辺物による太陽軌跡の日影を評価する(s5)。
請求項(抜粋):
評価地点において撮影した半球面像から評価対象となる評価画像領域を切り出し、評価地点の緯度、経度、方位角、傾斜角に従った太陽軌跡を取得し、この太陽軌跡と評価画像領域との重合せ画像を作成し、この重合せ画像から、評価画像領域内に存在する評価地点周辺物による日影を評価することを特徴とする太陽光評価方法。
IPC (3件):
G01J 1/42 ,  G01J 1/04 ,  G01C 1/00
FI (3件):
G01J 1/42 J ,  G01J 1/04 A ,  G01C 1/00 A
Fターム (13件):
2G065AA11 ,  2G065AA15 ,  2G065AB30 ,  2G065BA04 ,  2G065BA34 ,  2G065BA40 ,  2G065BB06 ,  2G065BC11 ,  2G065BD02 ,  2G065BD03 ,  2G065BD08 ,  2G065DA07 ,  2G065DA20
引用特許:
審査官引用 (6件)
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引用文献:
審査官引用 (1件)
  • 日本建築学会計画系論文報告集, 198803, 第385号, p.18〜24

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