特許
J-GLOBAL ID：200903081705653572

光学特性測定装置

発明者：
伊東 雅宏

伊東 雅宏 について

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前田 一夫

前田 一夫 について

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飯田 潤二

飯田 潤二 について

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寺島 彰

寺島 彰 について

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鈴木 修司

鈴木 修司 について


出願人/特許権者：
住友金属鉱山株式会社

住友金属鉱山株式会社 について


代理人 (1件)： 上田 章三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-241311
公開番号（公開出願番号）：特開平10-062337
出願日： 1996年08月23日
公開日（公表日）： 1998年03月06日
要約：
【要約】【課題】 被測定物を載置する受部材の帯電に起因した測定精度の低下が解消される光学特性測定装置を提供すること。【解決手段】 電気絶縁性のトレイ(受部材)1に載置された豚肉(被測定物)PMに対し光を照射する光源と、被測定物からの反射光若しくは透過光が入射される光起電力型の光検出器6とを備え、この光検出器に入射された反射光若しくは透過光から被測定物の光学特性を測定する光学特性測定装置であって、上記光検出器の光入射側にAlxZn1-xO等光透過性の導電性材料にて構成された保護カバー34が設けられかつこの保護カバーが接地されていることを特徴とする。この装置によれば、受部材が静電気を帯びている場合でも静電誘導により保護カバー34が帯電されることがない。従って受部材の帯電に起因した微量電流(偽電流)が光検出器から出力されることがないため被測定物の光学特性を高い精度で測定できる。
請求項（抜粋）：
絶縁性材料にて構成された受部材に載置された被測定物に対し光を照射する光源と、上記被測定物からの反射光若しくは透過光が入射される光起電力型の光検出器とを備え、この光検出器に入射された反射光若しくは透過光から被測定物の光学特性を測定する光学特性測定装置において、上記光検出器の光入射側に光透過性の導電性材料にて構成された保護カバーが設けられ、かつ、この保護カバーが接地されていることを特徴とする光学特性測定装置。
引用特許：
出願人引用 (5件)
  • 酸素飽和度計用プローブ
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-053547   出願人：日本光電工業株式会社
  • 情報処理装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-358420   出願人：カシオ計算機株式会社
  • 液晶表示装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-346632   出願人：三洋電機株式会社
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審査官引用 (22件)
  • 酸素飽和度計用プローブ
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-053547   出願人：日本光電工業株式会社
  • 特開平4-208842
  • 特開平4-208842
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