特許
J-GLOBAL ID：200903081720482466
X線異物検出装置及び該装置の画像表示方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-183119
公開番号（公開出願番号）：特開2004-028686
出願日： 2002年06月24日
公開日（公表日）： 2004年01月29日
要約：
【課題】製品影響を多角的に判断でき、最適な検出リミット値を容易に設定する。【解決手段】X線異物検出装置は、被検査物にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って被検査物を透過してくるX線の透過量に基づいて被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器5の表示画面5aに表示する。この検査結果の表示にあたって、被検査物へのX線曝射時のX線の透過量に応じたX線曝射時の被検査物の検査結果および2次元平面波形画像に加え、X線曝射時の被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、X線曝射時の被検査物の3次元鳥瞰波形画像を表示器5の表示画面5aに対して選択的に表示する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
被検査物(W)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量に基づいて前記被検査物中の異物の有無を検査し、この検査結果を表示器(5)に表示するX線異物検出装置(1)において、
前記被検査物へのX線曝射時のX線の透過量に応じたX線透過データを記憶する記憶手段(16)と、該記憶手段に記憶されたX線透過データに基づいて前記被検査物中の異物の混入の有無を判別するデータ処理判別手段(17)と、前記記憶手段に記憶されたX線透過データおよび前記データ処理判別手段の判別結果に基づいてX線曝射時の前記被検査物の検査結果、2次元平面画像、前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、3次元鳥瞰波形画像の各種画像データを作成する画像データ作成手段(18)と、該画像データ作成手段が作成した画像データに基づいて前記被検査物の検査結果、2次元平面画像、前記被検査物の搬送方向と略直交する方向の断面波形画像、3次元鳥瞰波形画像を前記表示器の表示画面に対して選択的に表示制御する表示制御手段(19)を含む処理手段(14)を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。
IPC (2件)：
FI (4件)：
G01N23/04
, G01D7/00 D
, G01D7/00 R
, G01D7/00 302P
2F041BA07
, 2G001AA01
, 2G001CA01
, 2G001DA08
, 2G001FA01
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001HA09
, 2G001HA13
, 2G001KA01
, 2G001KA05
, 2G001LA01
, 2G001NA17
, 2G001PA11
出願人引用 (2件)
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X線異物検出装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-332885
出願人：アンリツ株式会社
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X線異物検出方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-133871
出願人：株式会社島津製作所
審査官引用 (2件)
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X線異物検出装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-332885
出願人：アンリツ株式会社
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X線異物検出方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-133871
出願人：株式会社島津製作所
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