特許
J-GLOBAL ID:200903081771701766

密封包装袋のピンホール検査装置およびピンホール検 査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 富田 光風
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-018446
公開番号(公開出願番号):特開平9-189638
出願日: 1996年01月08日
公開日(公表日): 1997年07月22日
要約:
【要約】【課題】 包装箱内に充填された密封包装袋のピンホール検査を、包装箱を開封しないで行い得るピンホール検査装置とピンホール検査方法を提供する。【解決手段】 包装箱20を収容し得る検査用真空室10を設け、かつ検査用真空室10内には減圧時包装箱20内の密封包装袋80が膨張することを規制するための膨張規制部材22を包装箱20に減圧開始前もしくは開始後接触可能に配置し、検査用真空室10内の負圧により膨張する密封包装袋80の膨圧によって包装箱20が膨張することを制限して、密封包装袋80に押圧力を加え、洩れ出した検査用ガスをガス検知装置58に供給するようにした。
請求項(抜粋):
検査用ガスを封入した1または2以上の密封包装袋を包装箱内に充填した状態で包装箱を開封しないで密封包装袋のピンホールを検査する装置であって、前記包装箱を収容し得る検査用真空室を設けると共に、該検査用真空室内には包装箱に充填された密封包装袋の前面側もしくは後面側と相対向する方向の位置に減圧時密封包装袋が膨張することを規制するための膨張規制部材を包装箱に接触可能に配置し、かつ該膨張規制部材は減圧開始前から包装箱に接触して膨張を規制できるようにされ、さらに密封包装袋から検査用真空室内に洩れ出した検査用ガスを吸引してガス検知装置に供給するための吸引配管を設けた密封包装袋のピンホール検査装置。
IPC (2件):
G01M 3/32 ,  G01M 3/20
FI (2件):
G01M 3/32 A ,  G01M 3/20 E
引用特許:
審査官引用 (8件)
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