特許
J-GLOBAL ID:200903081918222087

集積回路のテスト回路

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岡田 敬
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-092281
公開番号(公開出願番号):特開平7-295850
出願日: 1994年04月28日
公開日(公表日): 1995年11月10日
要約:
【要約】【目的】 集積回路に設けた出力端子を、テストモード時に有効に使用することのできる集積回路のテスト回路を提供することを目的とする。【構成】 マイクロコンピュータに内蔵されるROM1の第1記憶領域にテスト命令を記憶させ、第2記憶領域に第1記憶領域に分岐するジャンプ命令を記憶させている。そして、マイクロコンピュータがリセットされている間、出力端子2-1〜2-4を、ROM1の第2記憶領域をアクセスするアドレスデータ(テストデータ)を入力できる様に機能させ、マイクロコンピュータがリセット解除された後、出力端子2-1〜2-4を、テストモード及び通常モードにおけるデータを出力できる様に機能させる。これにより、出力端子を有効に使用でき、出力端子数を最小限に抑えることができる。
請求項(抜粋):
データを出力する複数の出力端子を、テストデータを印加する入力端子として使用する集積回路のテスト回路において、第1記憶領域に各テストを実行する為の複数のテスト命令が記憶されると共に、第2記憶領域に少なくとも前記第1記憶領域をアクセスする為の複数のジャンプ命令が記憶されたメモリ手段と、前記出力端子から前記データを出力させる第1ゲート手段と、前記出力端子から前記メモリ手段の前記第2記憶領域をアクセスする為のアドレスデータを前記テストデータとして前記集積回路内部に入力させる第2ゲート手段と、前記集積回路がリセットされている間、前記第1ゲート手段の動作を停止させると共に前記第2ゲート手段を動作させて前記テストデータを出力可能とし、前記集積回路がリセット解除された後、前記第1ゲート手段を動作させて前記データを出力可能とすると共に前記第2ゲート手段の動作を停止させるゲート制御信号を発生するゲート制御信号発生手段と、前記集積回路がリセットされている間に、前記第2ゲート手段から出力されている前記テストデータを保持すると共に出力するテストデータ保持出力手段と、前記集積回路がリセットされている間、前記メモリ手段の前記第2記憶領域の先頭番地を表すアドレスデータがプリセットされ、前記集積回路がリセット解除された後、前記メモリ手段の前記第2記憶領域の先頭番地を表すアドレスデータからインクリメントを行い、前記メモリ手段をアクセスするアドレスカウンタ手段と、前記テストデータ保持出力手段の出力内容と前記アドレスカウンタ手段の計数内容とを比較し、前記出力内容及び前記計数内容が一致した時に一致検出信号を発生する比較手段と、前記一致検出信号が発生した時のみ、前記メモリ手段の前記第2記憶領域の所定番地から読み出されたジャンプ命令を出力する命令出力手段と、を備え、前記集積回路がリセットされている間、前記出力端子を前記テストデータの入力機能とし、前記集積回路がリセット解除された後、前記出力端子をテストモード及び通常モードにおけるデータの出力機能に設定することを特徴とする集積回路のテスト回路。
IPC (2件):
G06F 11/22 330 ,  G01R 31/28
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平4-242815
  • テスト回路
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-243267   出願人:三洋電機株式会社

前のページに戻る