特許

J-GLOBAL ID：200903082109407285

X線診断装置

発明者： ライナー-エフ シュルツ
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 矢野 敏雄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-209386
公開番号（公開出願番号）：特開平10-085207
出願日： 1997年08月04日
公開日（公表日）： 1998年04月07日
要約：

【要約】【目的】 改善されたゴースト画像-特性を有するX線診断装置を提供すること。【構成】 X線診断装置において、固体検出器(4)により検出される、X線ビームを発生する少なくとも1つのビーム発生器(1)を有し、固体検出器(4)により生ぜしめられる、被検対象物(3)の瞬時の、実際の明画像撮影の画像信号を、検出すると共に、場合により存在するアフタグロー、残光-信号を、少なくとも1つの暗画像-撮影から検出し、アフタグロー、残光-信号の有無に依存して、及び/又はアフタグロー、残光-信号の強度に依存してビーム発生器(1)を制御し、そして、瞬時の、実際の明画像撮影の画像信号を必要な場合、補正する補正ユニットを有していること。

請求項（抜粋）：

X線診断装置において、下記の構成要件を有し、即ち、-少なくとも1つのビーム発生器(1)を有し、該ビーム発生器のX線ビームは、マトリクス状に配置された画点を有する少なくとも1つの固体検出器(4)により検出され、-少なくとも1つの補正ユニットを有し、該少なくとも1つの補正ユニットは、固体検出器(4)により生ぜしめられる、被検対象物(3)の瞬時の、実際の明画像撮影の画像信号を検出するものであり、亦、存在し得るアフタグロー、残光-信号を、少なくとも1つの暗画像-撮影から検出するものであり、-前記補正ユニット(6)は、アフタグロー、残光-信号の有無に依存して、及び/又はアフタグロー、残光-信号の強度に依存してビーム発生器(1)を制御し、そして、瞬時の、ないし、瞬時の、実際の明画像撮影の画像信号(5)を必要な場合、補正するように構成されていることを特徴とするX線診断装置。

IPC (5件)：

A61B 6/00 300 ,  A61B 6/00 ,  G01N 23/04 ,  G06T 1/00 ,  H04N 7/18

FI (5件)：

A61B 6/00 300 S ,  G01N 23/04 ,  H04N 7/18 L ,  A61B 6/00 350 A ,  G06F 15/62 390 A

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 画像検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-208900   出願人：フィリップスエレクトロニクスネムローゼフェンノートシャップ

審査官引用 (1件)

• 画像検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-208900   出願人：フィリップスエレクトロニクスネムローゼフェンノートシャップ