特許

J-GLOBAL ID：200903082442920518

検査顕微鏡システム

発明者： 村上 勝治
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-228160
公開番号（公開出願番号）：特開2000-056235
出願日： 1998年08月12日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、効率よく、しかも正確に被検査箇所の検査を行なうことができる検査顕微鏡システムを提供する。【解決手段】スポット照明観察系の対物レンズ6を介して投影される標本7の観察像をTVカメラ10で撮像するとともに、この撮像画像を画像処理部23に取り込み、画像中で被検査箇所に対して指標を付与すると、この指標に対するステージ座標が位置解析部25により算出され、その後、検査したい被検査箇所の指標を指示すると、指標に対応するステージ座標に基づいて被検査箇所がスポット照明観察系の視野中心まで移動され、顕微鏡観察系に切換えることで自動的に被検査箇所が顕微鏡観察系の対物レンズ11の真下まで移動する。

請求項（抜粋）：

倍率の異なる少なくとも2つの観察系を有し、低倍率の観察系で観察した試料の検査結果に基づいて高倍率の観察系により顕微鏡観察を行なう検査顕微鏡システムにおいて、少なくとも前記低倍率の観察系による試料の観察像を撮像する撮像手段と、この撮像手段の撮像画像中の被検査箇所に対して指標を挿入可能にした画像処理手段と、この画像処理手段により挿入された指標に基づいて前記高倍率の観察系による顕微鏡観察への移行を制御する制御手段とを具備したことを特徴とする検査顕微鏡システム。

IPC (3件)：

G02B 21/18 ,  G01N 21/84 ,  G01N 21/88

FI (3件)：

G02B 21/18 ,  G01N 21/84 D ,  G01N 21/88 E

Fターム (21件)：

2G051AA51 ,  2G051AB02 ,  2G051AC02 ,  2G051AC15 ,  2G051CA04 ,  2G051DA07 ,  2G051ED01 ,  2G051FA04 ,  2H052AB05 ,  2H052AB10 ,  2H052AB21 ,  2H052AB24 ,  2H052AB25 ,  2H052AC04 ,  2H052AD16 ,  2H052AD18 ,  2H052AD19 ,  2H052AF03 ,  2H052AF14 ,  2H052AF23 ,  2H052AF25

引用特許：

審査官引用 (2件)

• マクロレンズを備えた顕微鏡
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-035110   出願人：オリンパス光学工業株式会社
• 顕微鏡画像観察システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-071913   出願人：オリンパス光学工業株式会社