特許

J-GLOBAL ID：200903082558188075

固体支持体及び該固体支持体上に固定化された複数の物質又は複合体を脱離/イオン化することにより質量分析する方法

発明者： 丹花 通文 ,  亀井 修一 ,  岡村 浩 ,  山川 薫 ,  山野 博文 ,  大場 光芳 ,  平野 久
出願人/特許権者： 東洋鋼鈑株式会社
代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  藤田 節 ,  島村 直己
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-042491
公開番号（公開出願番号）：特開2004-138596
出願日： 2003年02月20日
公開日（公表日）： 2004年05月13日
要約：

【課題】本発明の課題は、多数の試料を迅速に質量分析する手段を提供し、核酸及びタンパク質等の生体分子の解析を迅速に実施する方法を提供することである。【解決手段】表面にカーボン層が形成された固体支持体、及び試料中の物質をゲル電気泳動で分離後、ゲル中に分離された物質を該固体支持体上に転写することにより固定化し、該固体支持体上に固定化された物質を脱離/イオン化することにより複数の物質を質量分析する方法。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

試料中の物質をゲル電気泳動で分離後、ゲル中に分離された物質を転写することにより該物質が固定化されてなる、表面にカーボン層を有する固体支持体。

IPC (8件)：

G01N27/447 ,  B01D57/02 ,  B03C5/00 ,  C12Q1/68 ,  G01N1/10 ,  G01N1/28 ,  G01N27/62 ,  G01N27/64

FI (9件)：

G01N27/26 315J ,  B01D57/02 ,  B03C5/00 Z ,  C12Q1/68 A ,  G01N1/10 G ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 V ,  G01N27/64 B ,  G01N1/28 M

Fターム (18件)：

2G052AA26 ,  2G052AB18 ,  2G052AB20 ,  2G052AD26 ,  2G052ED14 ,  2G052GA24 ,  4B063QA01 ,  4B063QQ03 ,  4B063QQ41 ,  4B063QR41 ,  4B063QR50 ,  4B063QR84 ,  4B063QS11 ,  4B063QS16 ,  4B063QS36 ,  4B063QX10 ,  4D054FA10 ,  4D054FB20