特許
J-GLOBAL ID:200903082635241561
超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
北村 光司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-053766
公開番号(公開出願番号):特開2006-234770
出願日: 2005年02月28日
公開日(公表日): 2006年09月07日
要約:
【課題】 安価に構成でき且つデータ採集の簡易な試験を行うことの可能な超音波試験装置及び超音波試験方法を提供すること。【解決手段】 試験体100に超音波の送信及び受信を行う複数の探触子10を有するセンサヘッド2と、探触子10に電気信号の送信及び受信を行う試験装置本体とを備えた超音波試験装置である。複数の探触子の受信側端子を試験装置本体の電気信号の受信端子に並列接続し、複数の探触子10からの受信信号を同時に表示可能に構成する。そして、各探触子と試験装置本体との間における電気信号の送信及び受信のタイミングを各探触子10間で調整してあり又は調整ねじ15等により調整可能である。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
試験体に超音波の送信及び受信を行う複数の探触子を有するセンサヘッドと、前記探触子に電気信号の送信及び受信を行う試験装置本体とを備えた超音波試験装置であって、
前記複数の探触子の受信側端子を試験装置本体の電気信号の受信端子に並列接続し、前記複数の探触子からの受信信号を同時に表示可能に構成し、前記各探触子と前記試験装置本体との間における電気信号の送信及び受信のタイミングを前記各探触子間で調整してあり又は調整可能であることを特徴とする超音波試験装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (7件):
2G047BC07
, 2G047GA13
, 2G047GE08
, 2G047GF15
, 2G047GF31
, 2G047GG16
, 2G047GJ02
引用特許:
出願人引用 (1件)
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超音波診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-196224
出願人:株式会社日立メディコ
審査官引用 (2件)
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超音波探触子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-180082
出願人:日本鋼管株式会社, 株式会社トキメック, ジャパンプローブ株式会社
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超音波アレイ探触子の位置決め機構
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-111285
出願人:日立建機株式会社
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