特許
J-GLOBAL ID:200903082788368870
穀粒の評価装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
北村 修
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-076518
公開番号(公開出願番号):特開平9-264851
出願日: 1996年03月29日
公開日(公表日): 1997年10月07日
要約:
【要約】【課題】 穀粒の周辺部からの不要な透過光によって穀粒の品質評価が不適切になることを防止するために、穀粒の中心部からの透過光による透過画像によって穀粒の品質評価を適切に行う。【解決手段】 白色光源2a等の照明手段2で照明された穀粒kの存在予定箇所Sを透過した透過画像が、穀粒の大きさよりも小さい大きさの画素を単位として撮像手段3にて撮像され、その穀粒の存在領域のうちの中心部を含む所定範囲である評価対象範囲に対応する画像情報に基づいて、フィルター手段8を通過した特定波長成分の光の透過光量によって穀粒の良否等の品質が評価される。
請求項(抜粋):
穀粒を透過する特定波長成分の光の透過光量によって穀粒の品質を評価する穀粒の評価装置であって、穀粒の存在予定箇所に対して照明光を投射する照明手段(2)と、前記照明手段(2)からの照明光が前記存在予定箇所を透過したときの透過画像を、穀粒の大きさよりも小さい大きさの画素を単位として撮像する撮像手段(3)と、前記撮像手段(3)の撮像画像情報に基づいて、穀粒の存在領域のうちで、その中心部を含む所定範囲を評価対象範囲として抽出して、その評価対象範囲に対応する画像情報に基づいて、穀粒の品質を評価する品質評価手段(200)とが設けられている穀粒の評価装置。
IPC (3件):
G01N 21/85
, B07C 5/342
, G01N 21/27
FI (3件):
G01N 21/85 A
, B07C 5/342
, G01N 21/27 Z
引用特許: