特許
J-GLOBAL ID：200903083149124070

カバーレイフィルムの欠陥検出法

発明者：
杉谷 厚志

杉谷 厚志 について

, 
小西 久司

小西 久司 について

, 
栄口 吉次

栄口 吉次 について


出願人/特許権者：
信越化学工業株式会社

信越化学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 山本 亮一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-016293
公開番号（公開出願番号）：特開平9-210658
出願日： 1996年02月01日
公開日（公表日）： 1997年08月12日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 カバーレイフィルム中に含有される気泡、異物、ゲル、糊欠などの欠陥を欠陥検出機で自動的に検出し、マーキングするカバーレイフィルムの欠陥検出法を提供する。【解決手段】 本発明によるカバーレイフィルムの欠陥検出法は、カバーレイフィルムの製造工程において、ポリイミドフィルムに接着剤を塗工し、ドライヤーで乾燥後、離型紙とラミネートする前に、カバーレイフィルムのポリイミドフィルム側から光を当て、透過光をCCDラインセンサーの画素子で受光し、光量によって生ずる電圧変化を信号処理し、信号レベルが予め設定した明暗の基準値以上、あるいは基準値以下である時に、気泡、異物、ゲル、糊欠などを欠陥として判別し、検出することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
カバーレイフィルムの製造工程において、ポリイミドフィルムに接着剤を塗工し、ドライヤーで乾燥後、離型材とラミネートする前に、カバーレイフィルムのポリイミドフィルム側から光を当て、透過光をCCDラインセンサーの画素子で受光し、光量によって生ずる電圧変化を信号処理し、信号レベルが予め設定した明暗の基準値以上、あるいは基準値以下である時に、気泡、異物、ゲル、糊欠などを欠陥として判別し、検出することを特徴とすカバーレイフィルムの欠陥検出法。
IPC (2件)：
G01B 11/30 ,  C08J 7/04 CFG
FI (2件)：
G01B 11/30 E ,  C08J 7/04 CFG
引用特許：
審査官引用 (3件)

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