特許
J-GLOBAL ID：200903083201212578
眼光学特性測定装置
出願人/特許権者：
代理人 (1件)： 和泉 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-166767
公開番号（公開出願番号）：特開2001-340299
出願日： 2000年06月02日
公開日（公表日）： 2001年12月11日
要約：
【要約】[目的] 本発明は、被検眼眼底に投影された測定用ターゲット像の光量分布特性を検出し、その光量分布特性から眼光学特性を測定するための装置を提供することを目的とする。[構成] 本発明は、投影光学系が、光源部を有し光源部からの光束により被検眼眼底に測定ターゲットを投影し、受光光学系が、被検眼眼底からの反射光束を集光し、光電検出器が、受光光学系により形成された像の光量分布特性を検出し、演算部が、光電検出器からの信号に基づき被検眼の眼光学特性を測定し、投影光学系と受光光学系の両光路内に入射する光束を偏向するための偏向光学部材が、回転可能に配置されている。
請求項（抜粋）：
光源部を有し該光源部からの光束により被検眼眼底に測定ターゲットを投影するための投影光学系と、被検眼眼底からの反射光束を集光するための受光光学系と、前記受光光学系により形成された像の光量分布特性を検出するための光電検出器と、該光電検出器からの信号に基づき被検眼の眼光学特性を演算するための演算部とを備えた眼光学特性測定装置において、前記投影光学系と前記受光光学系の両光路内に入射する光束を偏向するための偏向光学部材を回転可能に配置したことを特徴とする眼光学特性測定装置。
FI (2件)：
引用特許：
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