特許
J-GLOBAL ID：200903083201709200

画像読取装置のずれ診断方法

発明者：
上諏訪 吉克

上諏訪 吉克 について


出願人/特許権者：
東芝テック株式会社

東芝テック株式会社 について


代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-174067
公開番号（公開出願番号）：特開2001-007970
出願日： 1999年06月21日
公開日（公表日）： 2001年01月12日
要約：
【要約】【課題】この発明は、画像読取装置のずれを短時間で正確に診断でき、信頼性の高い診断結果を得ることができる画像読取装置のずれ診断方法を提供することを課題とする。【解決手段】スキャナユニット11は、原稿を載置する原稿台ガラス2、原稿を照明する光源ユニット3、原稿からの反射光を受光して光電変換するCCDラインセンサ4、原稿からの反射光をCCDラインセンサ4へ導く第1〜第3ミラー5〜7、およびレンズ8を有している。原稿台ガラス2上の原稿有効領域から外れた位置には、ユニット11を構成した各構成要素の“ずれ”を診断するための複数の診断用マークを有するチャートが印刷、或いは貼り付けられている。ずれを診断する場合、センサ4を介してチャートを検出し、その検出結果に基づいてずれ量を算出し、算出結果を表示部を介してオペレータに対して表示する。
請求項（抜粋）：
原稿に光を当てる光源、原稿からの反射光を受光して原稿に関する画像信号を検出する光学素子、および原稿からの反射光を上記光学素子へ導く複数の光学部材を有する画像読取装置のずれ診断方法であって、上記光源を介して、原稿に隣接して上記画像読取装置の本体に設けられたマークに光を当て、その反射光を上記複数の光学部材を介して上記光学素子へ導き、この光学素子により上記マークに関する画像信号を検出し、この検出した画像信号に基づいて、上記光源、光学部材、および光学素子を含む上記画像読取装置を構成した各構成要素のずれを診断する方法。
IPC (4件)：
H04N 1/00 106 ,  H04N 1/04 ,  H04N 1/10 ,  H04N 1/107
FI (3件)：
H04N 1/00 106 C ,  H04N 1/04 Z ,  H04N 1/10
Fターム (34件)：
5C062AA05 ,  5C062AB05 ,  5C062AB17 ,  5C062AB23 ,  5C062AB38 ,  5C062AB42 ,  5C062AB47 ,  5C062AC05 ,  5C062AC21 ,  5C062AC55 ,  5C062AC56 ,  5C062AC58 ,  5C062AE15 ,  5C062AE16 ,  5C062AF06 ,  5C062BA00 ,  5C072AA01 ,  5C072BA03 ,  5C072BA15 ,  5C072CA02 ,  5C072DA01 ,  5C072DA23 ,  5C072EA05 ,  5C072LA02 ,  5C072LA15 ,  5C072LA20 ,  5C072RA10 ,  5C072RA11 ,  5C072RA18 ,  5C072UA12 ,  5C072UA13 ,  5C072UA20 ,  5C072VA07 ,  5C072XA01
引用特許：
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM