イオントラップ型質量分析装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小川勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-069535
公開番号（公開出願番号）：特開2000-268772
出願日： 1999年03月16日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は、高い分析性能を持つイオントラップ型質量分析装置を提供する事にある。【解決手段】本発明では、イオン出射口に対しては、分析性能を低減させない程度の穴径に設定し、イオン入射口に対しては、エンドキャップ電極上のイオン入射領域が、イオン出射口の開口面積より大きくなるように設定し、さらにイオン入射後のエンドキャップ電極の中心入射口が、イオン出射口の開口面積と同等或いはそれ以下となるように設定する。

請求項（抜粋）：

複数の電極により囲まれた電極間空間と、該電極間空間に高周波電界を形成するように高周波を発生する高周波電源と、イオン化された分析対象を、電極間空間に導入する複数の電極の一つに設置したイオン入射口と、該イオンを、電極間空間から出射する複数の電極の他の一つに設置したイオン出射口と、出射されたイオンを検出する検出器とを有し、イオン入射口の開口総面積が、イオン出射口の開口総面積と同等あるいはそれより大きいイオントラップ型質量分析装置。

Fターム (1件)：

5C038JJ06

引用特許：

審査官引用 (2件)

質量分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-045341 出願人：株式会社島津製作所
質量分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-311965 出願人：株式会社日立製作所

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