特許
J-GLOBAL ID:200903083362384697

部材角部の欠陥検査装置およびその方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 八田 幹雄 ,  野上 敦 ,  奈良 泰男 ,  齋藤 悦子 ,  宇谷 勝幸 ,  藤井 敏史
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-291279
公開番号(公開出願番号):特開2005-061947
出願日: 2003年08月11日
公開日(公表日): 2005年03月10日
要約:
【課題】 金属部材の角部における微細なキズを検出することができる欠陥検査装置【解決手段】 金属部材の角部を照明して、角部からの正反射光をカメラによって撮影して得られた光の帯画像の輝度を、光の帯に並行する方向に所定間隔で、垂直方向に複数スキャンし、スキャンして得られた輝度データを微分して、微分値のゼロクロス点の直前および直後の点AおよびBを結ぶ関数Y=-f(x)を求め、この関数のゼロクロス点の位置を光の帯の中心位置とし、複数スキャンの一つひとつから求めた中心位置の違いから角部における欠陥の有無を判定する。【選択図】 図5
請求項(抜粋):
被検査部材の角部を照明する照明手段と、 前記角部からの正反射光を撮影するための撮像手段と、 前記正反射光が前記撮像手段によって撮影されて得られた光の帯となった画像の輝度を、当該光の帯に並行する方向に所定間隔で、当該光の帯に対して垂直方向に複数スキャンし、当該複数スキャンの一つひとつから前記光の帯の中心位置を求めて、前記複数スキャンの一つひとつから求めた前記中心位置から前記角部における欠陥の有無を判定する演算手段と、 を有することを特徴とする欠陥検査装置。
IPC (1件):
G01N21/892
FI (1件):
G01N21/892 B
Fターム (7件):
2G051AA37 ,  2G051AB05 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051EA08 ,  2G051EA16 ,  2G051EB01
引用特許:
出願人引用 (1件)

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