特許
J-GLOBAL ID:200903083532490160

磁気刺激量の計算方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 興作 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-299114
公開番号(公開出願番号):特開2003-180649
出願日: 2002年10月11日
公開日(公表日): 2003年07月02日
要約:
【要約】【課題】 あらゆる皮質領域に対する刺激の総合的な効果を推定するのに適した全く新しい種類の方法を提供する。【解決手段】 本発明は、人間の脳に対する磁気刺激の効果を測定する方法に関するものである。この方法によれば、個々の刺激パルスが発生する電界強度を総計することによって、脳の異なる部分における刺激量を測定する。本発明によれば、磁気刺激コイル(1)の頭部(5)に対する位置及び整列を3次元的に、加えた刺激パルス毎に別個に測定して、磁気刺激コイル(1)が発生するパルスの数、反復度、及び強度をパルス毎に別個に測定して、断層撮影のような他の種類の測定から、あるいは例えば多数の患者から収集した静止データベースから得られた情報にもとづいて、磁気刺激コイル(1)と同じ座標系における脳の座標データをほぼ正確に測定して、脳から入手可能な位置データ、及び前記磁気刺激コイル(1)が発生する電磁界の累積効果について計算した測定データにもとづいて、脳内の前記所望の点に加えた電磁放射の累積刺激量を測定する。
請求項(抜粋):
個々の刺激パルスが発生する電界強度を累積的に総計することによって、脳の異なる部分における刺激量を測定するステップを具えた、人間の脳に対する磁気刺激の効果を測定する方法において、磁気刺激コイル(1)の頭部(5)に対する位置及び整列を3次元的に、加えた刺激パルス毎に別個に測定するステップと、前記磁気刺激コイル(1)が発生するパルスの数、反復度、及び強度を、パルス毎に別個に測定するステップと、断層撮影のような他の種類の測定から得た情報、あるいは例えば多数の患者から収集した静的データベースにもとづいて、前記磁気刺激コイル(1)と同じ座標系における脳の座標データをほぼ正確に測定するステップと、脳から入手可能な位置データ、及び前記磁気刺激コイル(1)が発生する電磁界の累積効果について計算した測定データにもとづいて、脳内の前記所望の点に加わる電磁放射の累積刺激量を測定するステップとを具えていることを特徴とする磁気刺激効果の測定方法。
IPC (4件):
A61B 5/05 ,  A61B 5/055 ,  A61N 2/00 ,  G01R 33/28
FI (4件):
A61B 5/05 N ,  A61N 1/42 Z ,  A61B 5/05 390 ,  G01N 24/02 Y
Fターム (18件):
4C027AA10 ,  4C027DD00 ,  4C096AA18 ,  4C096AB50 ,  4C096AC01 ,  4C096BA18 ,  4C096DC14 ,  4C096DC23 ,  4C096DC37 ,  4C096DD07 ,  4C096FC20 ,  4C106AA06 ,  4C106BB24 ,  4C106BB25 ,  4C106CC03 ,  4C106FF11 ,  4C106FF12 ,  4C106FF16
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 磁気刺激検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-218552   出願人:日本光電工業株式会社
引用文献:
審査官引用 (2件)

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