特許
J-GLOBAL ID：200903083619380329

検査方法および検査装置ならびに設備診断装置

発明者：
福井 郁磨

福井 郁磨 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (1件)： 松井 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-267529
公開番号（公開出願番号）：特開2005-121639
出願日： 2004年09月14日
公開日（公表日）： 2005年05月12日
要約：
【課題】 モノづくり等で起こる不良出現の状況変化(開発→量産試作→量産初期→量産安定期)に応じて、適切な検査を行うことができる検査方法を提供すること【解決手段】 入力された波形信号に対して特徴量を抽出し、抽出した特徴量に基づいて状態を判定する検査装置を用いて検査する。つまり、初期状態では正常状態のデータのみに基づいて生成された正常知識を用い、正常状態に合致するか否かの判定を行なう(S1,S2)。その判定を繰り返し実行するのに伴い収集した不良のデータに基づいて不良種類単位での不良種類知識を生成する(S3からS6)。その後、正常知識と不良種類判別知識を用いて状態を判定する(S7)。設計変更などにより不良が撲滅できると、新しい正常知識に基づく判定を行い、量産安定期に移行する(S8からS10)。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
入力された波形信号に対して特徴量を抽出し、抽出した特徴量に基づいて状態を判定する検査装置を用いた検査方法であって、 前記検査装置は、初期状態では正常状態のデータのみに基づいて生成された正常知識を用い、正常状態に合致するか否かの判定を行ない、 その判定を繰り返し実行するのに伴い収集した異常状態のデータに基づいて異常種類単位での異常種類知識を生成し、その後、前記正常知識と前記異常種類知識を用いて状態を判定することを特徴とする検査方法。
IPC (2件)：
G01H17/00 ,  G01M19/00
FI (2件)：
G01H17/00 Z ,  G01M19/00 Z
Fターム (24件)：
2G024AD18 ,  2G024BA15 ,  2G024BA27 ,  2G024CA13 ,  2G024DA09 ,  2G024EA01 ,  2G024FA06 ,  2G024FA11 ,  2G064AA01 ,  2G064AA12 ,  2G064AA13 ,  2G064AA14 ,  2G064AB01 ,  2G064AB02 ,  2G064AB13 ,  2G064AB22 ,  2G064BA02 ,  2G064CC22 ,  2G064CC26 ,  2G064CC35 ,  2G064CC41 ,  2G064CC43 ,  2G064CC45 ,  2G064CC54
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (6件)
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