特許
J-GLOBAL ID:200903083665912505

分光器及びそれを用いた測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  石田 悟
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-124599
公開番号(公開出願番号):特開2005-308495
出願日: 2004年04月20日
公開日(公表日): 2005年11月04日
要約:
【課題】 分光対象となる光に対する光結合を好適に実現することが可能な分光器、及びそれを用いた測定装置を提供する。【解決手段】 光学体10、光入射スリット12が形成されたガラス部材11、及び接続フランジ20を用いて分光器1Aを構成する。また、接続フランジ20に、ガラス部材11が位置決めされて挿入される開口部21、及び開口部21を前後に挟む位置に開口部21に対して位置決めされて設けられた位置決めロッド25を設ける。この位置決めロッド25を用いることにより、分光器1Aを測定装置に適用する際に、分光器1Aと測定装置の他の構成要素とをパッシブアライメント方式によって容易かつ精度良く接続することが可能となる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
入射した対象光を分光するために用いられる分光部と、 前記分光部に対して所定位置に設けられ、前記対象光を前記分光部内へと入射させる光入射部と、 前記光入射部及び前記分光部を所定の他の部材に対して接続する際に用いられる接続部材と、 前記光入射部に対して位置決めされて設けられ、前記他の部材に対する前記光入射部の位置決めに用いられる位置決め手段と を備えることを特徴とする分光器。
IPC (2件):
G01J3/02 ,  G01J3/04
FI (2件):
G01J3/02 Z ,  G01J3/04
Fターム (5件):
2G020CC02 ,  2G020CC13 ,  2G020CC42 ,  2G020CC63 ,  2G020CD13
引用特許:
出願人引用 (4件)
  • スペクトロメ-タ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平11-063866   出願人:グレターク-マクベス・アーゲー, エンバイロスモニターズリミテッド, センタースイスエレクトロニークマイクロテクニークエスエー(CSEM)
  • 放射検出装置
    公報種別:公表公報   出願番号:特願平8-507126   出願人:リドヤード,アンドリュー, シュリュウスベリー,デビッド
  • 光学スリットの作製方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-191003   出願人:株式会社島津製作所
全件表示
審査官引用 (4件)
  • 特開平2-115749
  • 放射検出装置
    公報種別:公表公報   出願番号:特願平8-507126   出願人:リドヤード,アンドリュー, シュリュウスベリー,デビッド
  • 光学スリットの作製方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-191003   出願人:株式会社島津製作所
全件表示

前のページに戻る