特許
J-GLOBAL ID：200903083783615752
光強度制御装置および光強度制御方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松岡 修平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-075182
公開番号（公開出願番号）：特開平9-243949
出願日： 1996年03月05日
公開日（公表日）： 1997年09月19日
要約：
【要約】【課題】 光学系の特性上、あるいは経時変化によって入射光束の偏光状態が変化する可能性がある場合、モニター光束の強度にしたがってこのモニター光束の強度か一定となるよう発光素子の発光量を制御することにより、主光束の光量が変化する可能性がある。【解決手段】 独立して発光制御される複数の半導体レーザー101〜108から発した光束をそれぞれモニター光束と主光束とに分割するハーフミラー144と、各モニター光束の強度を検出する受光素子155,157と、少なくともハーフミラー144の偏光特性に起因するハーフミラー144への入射光束の偏光状態に依存する受光素子155,157の出力の変化を補正するゲイン調整回路433と、補正された出力信号に基づいて各半導体レーザーの発光強度を制御するレーザー駆動回路451〜458とを有することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
少なくとも1つの光源を有する光源部から発した光束をモニター光束と主光束とに分割する光分割素子と、前記モニター光束の光強度を検出する光検出手段と、前記光分割素子への入射光の偏光状態に拘わらず、前記モニター光束の光強度と前記光分割素子より後段の光学系により対象面上に導かれた前記主光束の光強度とが一定の相関をもつよう前記光検出手段の出力を補正する補正手段と、前記補正手段により補正された前記光検出手段の出力信号に基づいて前記光源の発光強度を制御する制御手段とを有することを特徴とする光強度制御装置。
IPC (3件)：
G02B 26/10
, B41J 2/44
, G11B 7/125
G02B 26/10 Z
, G11B 7/125 C
, B41J 3/00 M
