特許
J-GLOBAL ID:200903084110352110

被測定物検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 江原 省吾 ,  田中 秀佳 ,  白石 吉之 ,  城村 邦彦 ,  熊野 剛 ,  山根 広昭
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-301827
公開番号(公開出願番号):特開2007-108129
出願日: 2005年10月17日
公開日(公表日): 2007年04月26日
要約:
【課題】電磁波の照射による被測定物を検出する際の近距離における被測定物の検出を容易にすると共に、被測定物検出装置と被測定物との間にある阻害物体による検出感度の低下を改善する。【解決手段】被測定物検出装置1であって、パルス状のレーザ光を拡散的に放射する投光部4と、投光部4から放射されたレーザ光を平行光に変換する凸レンズ9と、凸レンズ9で変換されたレーザ光が被測定物14に照射され、被測定物14で反射したレーザ光を、凸レンズ9を経由して受波する受光部5と、投光部4と凸レンズ9との間、および受光部5と凸レンズ9との間に介在し、投光部4から出射されたレーザ光を凸レンズ9に導くと共に、被測定物14で反射したレーザ光を凸レンズ9から受光部5に導くPBS6と、投光部4から放射されたレーザ光と、受光部5にて受波されたレーザ光とを比較し、被測定物14までの距離を検出する距離検出部13とを備える。【選択図】図1
請求項(抜粋):
パルス状の電磁波を拡散的に放射する放射手段と、 前記放射手段から拡散的に放射された電磁波の放射形態を、平行直進的放射形態に変換する第一放射形態変換手段と、 前記第一放射形態変換手段で変換された電磁波が被測定物に照射され、前記被測定物から反射された電磁波を、前記第一放射形態変換手段を経由して受波する受波手段と、 前記放射手段と前記第一放射手段変換手段との間、及び前記受波手段と前記第一放射手段変換手段との間に介在し、前記放射手段から放射された電磁波を前記第一放射形態変換手段に導くと共に、前記被測定物から反射された電磁波を前記第一放射形態変換手段から前記受波手段に導く分波手段と、 前記放射手段から放射された電磁波と、前記受波手段で受波された電磁波とを比較して、前記放射手段又は前記受波手段から前記被測定物までの距離を検出する距離検出手段とを備えたことを特徴とする被測定物検出装置。
IPC (3件):
G01S 17/10 ,  G01S 13/42 ,  G01S 7/03
FI (3件):
G01S17/10 ,  G01S13/42 ,  G01S7/03 M
Fターム (22件):
5J070AA14 ,  5J070AB01 ,  5J070AC01 ,  5J070AC02 ,  5J070AC13 ,  5J070AD01 ,  5J070AD20 ,  5J070AK02 ,  5J070AK28 ,  5J084AA05 ,  5J084AD01 ,  5J084BA03 ,  5J084BA11 ,  5J084BA13 ,  5J084BA48 ,  5J084BB04 ,  5J084BB07 ,  5J084BB16 ,  5J084BB24 ,  5J084BB28 ,  5J084CA03 ,  5J084EA07
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 米国特許第6759649号公報
審査官引用 (7件)
  • スキャニング型レンジセンサ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2004-028395   出願人:日本電産株式会社, 有限会社キズクリ設計事務所, 北陽電機株式会社
  • スキャニング型レンジセンサ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2003-284441   出願人:北陽電機株式会社, 日本電産株式会社
  • 特開平3-175390
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