特許
J-GLOBAL ID：200903084111392123
微量塩素イオン濃度分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-371960
公開番号（公開出願番号）：特開2006-177800
出願日： 2004年12月22日
公開日（公表日）： 2006年07月06日
要約：
【課題】 高濃度アルカリ性試料中の微量塩素イオンについて精度よく分析が行え、故障の少ない装置とすることができる微量塩素イオン濃度分析方法を提供する。【解決手段】 標準液4及び高濃度アルカリ性試料を滴定槽8にそれぞれ所定量採取し、中和用酸を添加して弱酸性とした後、銀電極13を陽電極、金属電極14を陰電極にして定電流を流して含有塩素イオンが消失するまで電解を行い、該電解に要した電気量から標準液4のみを電解したときの電気量を差し引いて、試料溶液中の塩素イオン量を算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
標準液及び高濃度アルカリ性試料を滴定槽にそれぞれ所定量採取し、中和用酸を添加して弱酸性とした後、銀電極を陽電極、金属電極を陰電極にして定電流を流して含有塩素イオンが消失するまで電解を行い、該電解に要した電気量から標準液のみを電解したときの電気量を差し引いて、試料中の塩素イオン量を算出することを特徴とする高濃度アルカリ性試料中の微量塩素イオン濃度分析方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N27/26 341A
, G01N27/26 341Z
, G01N27/42 G
出願人引用 (1件)
審査官引用 (6件)
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