特許
J-GLOBAL ID:200903084258450145

検査対象物の外観検査方法とその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森 義明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-140613
公開番号(公開出願番号):特開平11-326235
出願日: 1998年05月06日
公開日(公表日): 1999年11月26日
要約:
【要約】【目的】 検査対象である板状体の表裏両面又は多面体の全表面或いは検査を必要とする複数の面の外観の撮像をより少ないカメラ台数で高速度で経済的に実現する事にある。【解決手段】 対象物(1)を搬送手段(10)で保持してラインセンサカメラ(2)による撮像領域を移動させ、検査対象物(1)の複数の面(A)(C)...を順次ラインセンサカメラ(2)で撮像し、撮像された検査対象物(1)の画像を予め登録された基準画像と比較して検査対象物(1)の面(A)(C)...の良否を判定する事を特徴とする。
請求項(抜粋):
検査対象物を搬送手段で保持してラインセンサカメラの撮像領域を移動させ、検査対象物の複数の面を順次ラインセンサカメラで撮像し、撮像された検査対象物の画像を予め登録された基準画像と比較して検査対象物の外面の良否を判定する事を特徴とする検査対象物の外観検査方法。
IPC (3件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00
FI (3件):
G01N 21/88 J ,  G01B 11/24 A ,  G06F 15/62 400
引用特許:
審査官引用 (5件)
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