特許
J-GLOBAL ID：200903084325849597

制御システムの診断・解析方法および装置

発明者：
鹿山 昌宏

鹿山 昌宏 について

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杉田 洋一

杉田 洋一 について

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諸岡 泰男

諸岡 泰男 について

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稲葉 博美

稲葉 博美 について

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福岡 昇平

福岡 昇平 について

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熊山 治良

熊山 治良 について

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河野 公生

河野 公生 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-124708
公開番号（公開出願番号）：特開平8-320726
出願日： 1995年05月24日
公開日（公表日）： 1996年12月03日
要約：
【要約】【目的】制御対象または制御装置から得られるデータを有効に利用した高信頼かつ定量的な診断を行う制御システムの診断・解析装置を提供する。【構成】制御対象150または制御装置であるコントローラ131〜133から得られるデータを信号解析手段102により解析しスラクタル次元,リヤプノフ指数などを求めて予めデータベース107に蓄えられている制御対象150などの正常時のデータと照合診断手段110で照合することにより第1の診断手段104にて動的異常を求め、第2の診断手段105では第1の診断手段の診断結果から制御対象150などの経年変化を診断する。そして第3の診断手段106では第1の診断手段及び第2の診断手段の診断結果に基づいて総合的な診断を行う。
請求項（抜粋）：
制御対象または制御装置から取り込んだ信号を基に該制御対象または該制御装置の異常を診断する診断手段を複数備えた制御システムの診断・解析装置であって、該制御対象または該制御装置から得られた信号の良否を判定するための情報を蓄えるデータベースと、前記制御対象または前記制御装置から取り込んだ信号と該データベースに蓄えられた該情報に基づいて該制御対象または該制御装置の異常度を判定する判定手段とを備えた第1の診断手段と、前記第1の診断手段の該判定手段の結果を少なくとも一の入力として前記制御対象または前記制御装置の異常の有無を判定するとともに前記制御対象または前記制御装置の異常箇所を特定する判定手段とを備えた第2の診断手段とを前記複数の診断手段の中に少なくとも一つ有することを特徴とする制御システムの診断・解析装置。
IPC (2件)：
G05B 23/02 302 ,  G08B 31/00
FI (2件)：
G05B 23/02 302 Y ,  G08B 31/00 Z
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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