特許
J-GLOBAL ID：200903084360665784

X線吸収端を用いた含有率測定方法及び装置

発明者：
山野 豊次

山野 豊次 について


出願人/特許権者：
田中科学機器製作株式会社

田中科学機器製作株式会社 について


代理人 (1件)： 日比谷 征彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-007750
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214162
出願日： 2001年01月16日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
要約：
【要約】【課題】 微量元素の含有率を簡易かつ高精度に測定する。【解決手段】 X線を照射するX線管2からヘリウムガスが充填されたハウジング1内に向けて、照射されるX線の光軸上には試料を入れる試料セル3、第1コリメータ4、回転可能な分光結晶5、第2コリメータ6、X線を計測するためのベリリウム窓を有する比例計数管7が配置されている。硫黄原子の吸収端波長を中心として、僅かに長波長の低エネルギ側と短波長の高エネルギ側の一対のX線透過量を検出する。吸収端の一対の前後の波長の差は0.05〜0.5Åであり、これに相当する角度を移動し、硫黄の吸収端の前後の質量吸収係数を検出することにより硫黄の含有率を測定する。
請求項（抜粋）：
特定元素を含む試料にX線を照射し、その透過X線を分光して前記特定元素のX線吸収端の前後の波長におけるX線透過率を検出し、これらの比を求めることにより、前記試料中の前記特定元素の含有率を測定することを特徴とするX線吸収端を用いた含有率測定方法。
Fターム (21件)：
2G001AA01 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001EA01 ,  2G001FA12 ,  2G001GA01 ,  2G001GA13 ,  2G001HA01 ,  2G001JA04 ,  2G001JA05 ,  2G001JA11 ,  2G001JA14 ,  2G001KA01 ,  2G001LA04 ,  2G001MA02 ,  2G001NA08 ,  2G001SA01 ,  2G001SA02 ,  2G001SA04 ,  2G001SA12
引用特許：
審査官引用 (6件)
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