特許
J-GLOBAL ID：200903084436995070

画像プロセス装置における故障識別方法

発明者：
ロジャー ダブリュ ブドニック

ロジャー ダブリュ ブドニック について

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ジェームス エム ペーサー

ジェームス エム ペーサー について

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グル ビー ラジ

グル ビー ラジ について

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ラルフ エー シューメーカー

ラルフ エー シューメーカー について

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マイケル ジー スワールス

マイケル ジー スワールス について


出願人/特許権者：
ゼロックス コーポレイション

ゼロックス コーポレイション について


代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-044067
公開番号（公開出願番号）：特開平11-338322
出願日： 1999年02月23日
公開日（公表日）： 1999年12月10日
要約：
【要約】【課題】 複雑多機能化している複写機械において、不具合のある部分を容易にまた自動的に指示し効率的なトラブルシューティングを実現する。【解決手段】 センサの出力が直接、間接のデータとして用いられ、装置の不具合部分の検出に用いられる。例えば未使用状態等の汚染なしの状態での測定により黒色トナー領域被覆度センサの較正120が行われ、汚染レベルの検査126が行われる。さらに、電子写真光受容体面の欠陥領域を判定する光受容体パッチ均一性テスト128が実行される。その後、ラスタ出力スキャナ(ROS)のビーム故障テスト136、クリーナテスト138が実行される。また、総合的なアクチュエータ性能インジケータテストとして、予帯電テストブロック140とROSテスト142が実施される。これに続き、バックグラウンドテスト144等が実行される。これら各種テストにより不具合部分が検知される。
請求項（抜粋）：
帯電、露光、現像、清掃のサブシステムが含まれる光受容体及び電子写真プロセスのモジュール、複数レベルの診断解析を行う制御システム、及び現像されたテストパッチを監視するセンサシステムを持つ画像プロセス装置における部分故障を識別する方法において、許容されない機械汚染度を判定するためのセンサシステム較正数を提供するステップと、前記光受容体面の欠陥領域の存在を判定するステップと、前記光受容体面の不要なトナーを清掃するクリーナサブシステムの有効性を決定するステップと、前記光受容体面の不均一な現像領域を判定するステップと、帯電、現像、露光のサブシステムの部分故障を逐次的に識別するステップと、を有する故障識別方法。
IPC (4件)：
G03G 21/00 510 ,  G03G 15/02 ,  G03G 15/04 ,  G03G 15/08 507
FI (4件)：
G03G 21/00 510 ,  G03G 15/02 ,  G03G 15/04 ,  G03G 15/08 507 K
引用特許：
審査官引用 (17件)
  • 画像形成装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-120564   出願人：キヤノン株式会社
  • 画像形成装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-193106   出願人：キヤノン株式会社
  • 特開平2-221988
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