特許
J-GLOBAL ID：200903084454310262
放射線画像読取システム及び放射線画像読取方法
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-020935
公開番号（公開出願番号）：特開平11-316844
出願日： 1999年01月29日
公開日（公表日）： 1999年11月16日
要約：
【要約】【課題】 半導体検出手段を用いた場合において、X線透過画像の低濃度領域で粒状性を抑制できるようにすると共に、その高濃度領域で鮮鋭性を向上できるようにする。【解決手段】 X線15を被写体20に放射するためのX線管1、高電圧発生装置2及びX線制御装置3と、この被写体20を透過したX線光子を各画素毎に受けて電気信号に変換する半導体検出手段としてのFPD4と、このFPD4によるオリジナル画像信号Sorgを処理して被写体20のX線透過画像を再生する画像処理手段5とを備え、この被写体20のX線透過画像を再生する際に、そのX線透過画像の低濃度領域での変調伝達関数をその高濃度領域での変調伝達関数よりも低くするようになされたものである。
請求項（抜粋）：
放射線を被写体に放射する放射線放射手段と、前記被写体を透過した放射線光子を各画素毎に受けて電気信号に変換する半導体検出手段と、前記半導体検出手段による電気信号を処理して前記被写体の放射線透過画像を再生する画像処理手段とを備え、前記被写体の放射線透過画像を再生する際に、前記放射線透過画像の低濃度領域での変調伝達関数をその高濃度領域での変調伝達関数よりも低くするようになされたことを特徴とする放射線画像読取システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F 15/62 400
, A61B 6/00 350 N
