特許
J-GLOBAL ID：200903084532261311
半導体試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-274663
公開番号（公開出願番号）：特開平9-089999
出願日： 1995年09月28日
公開日（公表日）： 1997年04月04日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、初回の初期化設定以後のDUT試験条件の転送設定において、前回設定データ値と今回設定データ値が異なるデータのみ転送実行、即ち差分転送制御手段を設けて、無駄な冗長転送動作を無くして高速化を実現する。【解決手段】 以前の被試験デバイスの試験条件を変える複数設定データと、今回設定するの複数設定データの中で、以前のテスターバスアドレスと同一の設定データを除いた設定データをテスターバス60を介して送出する差分転送処理手段を設ける。
請求項（抜粋）：
複数モジュールとテスターコントローラ間をテスターバスでインターフェースし、該テスターバスを介して被試験デバイスの試験条件である複数設定データを各モジュールに送出する半導体試験装置において、以前の試験条件を変える複数設定データと、今回設定するの複数設定データの中で、以前のテスターバスアドレスと同一の設定データを除いた設定データをテスターバスを介して送出する差分転送処理手段を設け、以上を具備していることを特徴とした半導体試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 H
, G01R 31/26 G
