特許
J-GLOBAL ID：200903084592919650
電磁界解析方法、電磁界解析装置、プログラム、および記録媒体
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
深見 久郎
, 森田 俊雄
, 仲村 義平
, 堀井 豊
, 野田 久登
, 酒井 將行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-024820
公開番号（公開出願番号）：特開2007-206969
出願日： 2006年02月01日
公開日（公表日）： 2007年08月16日
要約：
【課題】FDTD法を用いた電磁界解析の効率を向上させる。【解決手段】1タイムステップ幅の解析が終了する毎に、実行減衰率と目標減衰率とを比較することによって解析結果が減衰するか発散するかを判定する(S5)。解析結果が減衰するときには解析結果を記憶部に格納する(S7)。解析結果が発散するときには、前回、記憶部に記憶された解析結果を読み出して(S10)、解析状態を復元し、PMLを追加した上で(S12)、解析をし直す。【選択図】図4
請求項（抜粋）：
PML(Perfectly Matched Layer)で囲むことにより吸収境界条件を設定した解析領域の電磁界をFDTD法(Finite Difference Time Domain:有限差分時間領域法)を用いて所定のタイムステップ幅で解析する解析ステップと、
該解析ステップにより1タイムステップ幅の解析が終了する毎に、解析結果の良否を判定する判定ステップと、
該判定ステップにより良と判定されたときに、前記解析ステップによる解析結果を所定の格納部に格納する格納ステップと、
前記判定ステップにより否と判定されたときに、前記判定ステップにより否と判定された解析結果よりも前の解析時刻に導出された前記解析ステップの解析結果を前記格納部から読出す読出ステップと、
前記判定ステップにより否と判定された解析結果が導出されたときの前記解析領域に対してPMLを追加し、かつ、前記読出ステップにより読出された解析結果を用いて、前記解析領域の電磁界を前記解析ステップに再解析させる再解析ステップとを備える、電磁界解析方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F17/50 662G
, G01R29/08 Z
, G06F17/50 666V
5B046AA08
, 5B046BA03
, 5B046JA10
