特許
J-GLOBAL ID：200903084678767101

走査型トンネル顕微鏡、磁気記録再生方法及び探針の製造方法

発明者：
児玉 宏喜

児玉 宏喜 について

, 
後藤 康之

後藤 康之 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-305696
公開番号（公開出願番号）：特開平9-145724
出願日： 1995年11月24日
公開日（公表日）： 1997年06月06日
要約：
【要約】【課題】 走査型トンネル顕微鏡、磁気記録再生方法及び探針の製造方法に関し、磁化情報の高密度記録及び再生を可能にするとともに探針の構造を簡単化してその製造を容易にすることを目的とする。【解決手段】 試料7の表面に所定の間隙を保ちながら探針6を走査し、該探針6に円偏光を照射することによって該探針6内にスピン偏極電子を励起し、該試料7と該探針6間を流れるトンネル電流に含まれるスピン偏極電子により試料7の磁化を検出する走査型トンネル顕微鏡において、該円偏光は、試料7を通して該探針6に照射されるように構成する。
請求項（抜粋）：
試料表面に所定の間隙を保ちながら探針を走査し、該探針に円偏光を照射することによって該探針内にスピン偏極電子を励起し、該試料と該探針間を流れるトンネル電流に含まれるスピン偏極電子により試料の磁化を検出する走査型トンネル顕微鏡において、該円偏光は、試料を通して該探針に照射されることを特徴とする走査型トンネル顕微鏡。
IPC (3件)：
G01N 37/00 ,  G01R 33/12 ,  G11B 9/00
FI (3件)：
G01N 37/00 B ,  G01R 33/12 Z ,  G11B 9/00
引用特許：
審査官引用 (4件)
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