特許
J-GLOBAL ID:200903084735079942
X線検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
西村 教光
, 鈴木 典行
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-321548
公開番号(公開出願番号):特開2005-091015
出願日: 2003年09月12日
公開日(公表日): 2005年04月07日
要約:
【課題】 非透明の包装物を用いた被検査物の製品サイズやシール部のシール幅の設定入力を容易に行う。【解決手段】 表示器5の設定入力画面30には、被検査物Wの製品サイズ及びシール部のシール幅の位置と長さを特定する識別子を付与した被検査物Wの外形画像とともに、少なくとも製品サイズ及びシール部のシール幅を設定する設定項目を識別子と対応付けさせて一画面上に同時に表示する。【選択図】 図4
請求項(抜粋):
非透明の包装材(Wp)に内容物(Wa)が収容された少なくとも一辺にシール部(Ws)を有する被検査物(W)の検査をするX線検査装置(1)において、
前記被検査物の製品サイズ及び前記シール部のシール幅の位置と長さを特定する識別子を付与した前記被検査物の外形画像とともに、少なくとも前記製品サイズ及び前記シール部のシール幅を設定する設定項目を前記識別子と対応付けさせて表示器(5)の一画面上に表示制御する表示制御手段(21)を備えたことを特徴とするX線検査装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (15件):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA01
, 2G001DA02
, 2G001DA08
, 2G001FA01
, 2G001FA06
, 2G001FA29
, 2G001JA08
, 2G001JA13
, 2G001JA16
, 2G001KA05
, 2G001LA01
, 2G001PA11
引用特許:
出願人引用 (1件)
-
X線異物検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-334996
出願人:アンリツ産機システム株式会社
前のページに戻る