特許
J-GLOBAL ID：200903085190055796
絶縁検査装置及び絶縁検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 要泰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-042867
公開番号（公開出願番号）：特開2007-139797
出願日： 2007年02月22日
公開日（公表日）： 2007年06月07日
要約：
【課題】回路基板のスパークに関連して、一層正確に検査し得る絶縁検査装置及び絶縁検査方法を提供すること【解決手段】複数の配線パターン(P)が形成される回路基板(10)の絶縁検査を行う絶縁検査装置(1)であって、前記複数の配線パターンから一つの配線パターンを第一検査部(図2のT1)として選出するとともに、該記第一検査部以外の全ての配線パターンを第二検査部(同T2)として選出する選出手段(2)と、前記第一検査部と前記第二検査部との間に所定の電位差を設定するために、前記第二検査部に接続されるとともに該第二検査部に電圧を印加する電源手段(3)と、前記第一検査部に流れる電流を検出するために前記第一検査部に接続される第一電流検出手段(4)と、前記第一電流検出手段が検出する電流値を所定基準値と比較して、この比較結果により当該回路基板を良品又は不良品として判定する判定手段(7)と、を備えている。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数の配線パターンが形成される回路基板の絶縁検査を行う絶縁検査装置であって、
前記複数の配線パターンから検査対象となる一つの配線パターンを第一検査部として選出するとともに、該記第一検査部以外の検査対象となる全ての配線パターンを第二検査部として選出する選出手段と、
前記第一検査部と前記第二検査部との間に所定の電位差を設定するために、前記第二検査部に接続されるとともに該第二検査部に電圧を印加する電源手段と、
前記第一検査部と第二検査部との間に流れる電流を検出する電流検出手段と、
前記電流検出手段が検出する電流値を所定基準値と比較して、この比較結果により当該回路基板を良品又は不良品として判定する判定手段と、を備えたことを特徴とする絶縁検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (4件)：
2G014AA15
, 2G014AA17
, 2G014AB59
, 2G014AC09
出願人引用 (1件)
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特許掲載公報第3546046号(発行日:2004年7月21日) この特許文献1に開示される絶縁検査装置及び方法では、一対の配線パターン間に所定の直流電圧を印加し、印加開始から所定電圧値までの間に変化する電圧を検出することによって、その電圧変化からスパークを検出し、スパーク発生時の電圧降下を検出することでスパーク検出しようとするものである。このように、印加電圧の立ち上がり期間の電圧変化を検出することによって、スパークを検出することができ、上記問題点を解決することができた。
審査官引用 (1件)
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