特許
J-GLOBAL ID：200903085395669614
電気的な構成群の製作装置に設けられた保持装置の移動距離及び/又は角度位置を校正するための方法及び装置並びに校正基板
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢野 敏雄 (外4名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-569621
公開番号（公開出願番号）：特表2002-524884
出願日： 1999年09月01日
公開日（公表日）： 2002年08月06日
要約：
【要約】公知の方法は、電気的な構成群の製作装置に設けられた保持装置の移動距離及び/又は角度位置を、校正基板(1)に装着された電気的な校正素子モデル(2)の位置を光学的に測定することによって校正する。このためには、モデル(2)上のマーキング(4)と、校正基板(1)上の局所的な基準マーク(3)とが役立つ。光学センサとして使用されるプリント配線板カメラは、校正を困難にする顕著なひずみを有している。本発明による方法、装置及び校正基板(1)に基づき、この校正基板(1)において予め規定された定格距離(a)で予め規定された位置に付与された2つの修正マーク(5,6)の位置がプリント配線板カメラによって測定され、測定結果が前記定格距離(a)と比較されるセンサ修正ファクタが求められる。
請求項（抜粋）：
電気的な構成群の製作装置に設けられた保持装置の移動距離及び/又は角度位置を校正するための方法であって、前記製作装置を用いて、プリント配線板の形式の校正基板(1)の規定された載置箇所に、薄板状の構成素子モデル(2)を装着し、校正基板(1)の局所的な基準マーク(3)に対するモデル(2)の相対的な位置を、これらのモデル(2)の位置規定された光学的な構造特徴部(例:4)に基づき、局所解析型の光学センサを用いて検出する形式のものにおいて、 光学センサが、校正基板(1)上に予め規定された定格距離(a)で付与された第1の修正マーク(5)と第2の修正マーク(6)との間の距離を測定し、この場合、局所的な基準マーク(3)を、光学センサの視野(7)の、第1の修正マーク(5)と少なくともほぼ同じ位置で撮影し、測定した距離を前記定格距離(a)と比較することにより、前記モデル(2)の位置決め時に光学的なひずみを補償するために考慮されるセンサ修正ファクタを求めることを特徴とする、電気的な構成群の製作装置に設けられた保持装置の移動距離及び/又は角度位置を校正するための方法。
IPC (3件)：
H05K 13/04
, G01B 11/00
, G01B 11/26
H05K 13/04 M
, G01B 11/00 C
, G01B 11/00 H
, G01B 11/26 H
2F065AA03
, 2F065AA07
, 2F065AA09
, 2F065BB27
, 2F065CC01
, 2F065CC28
, 2F065DD19
, 2F065EE11
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065KK01
, 5E313AA01
, 5E313AA11
, 5E313CC04
, 5E313EE03
, 5E313EE22
, 5E313FF24
, 5E313FF32
, 5E313FF40
