特許
J-GLOBAL ID：200903085481794871

電子部品基板試験用トレイおよび電子部品基板の試験装置

発明者：
清川 敏之

清川 敏之 について


出願人/特許権者：
株式会社アドバンテスト

株式会社アドバンテスト について


代理人 (1件)： 前田 均 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-003792
公開番号（公開出願番号）：特開2000-206194
出願日： 1999年01月11日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
要約：
【要約】【課題】試験のスループットを向上させ、正確な温度での試験を可能とし、試験装置の小型化、単純化および低コスト化を図る。【解決手段】メモリモジュール10の基板端子12が露出するように、メモリモジュールの両側端部が移動自在に挿入される保持溝36が形成してあるインサート30と、メモリモジュール10の基板端子12が露出するように、インサート30を保持するトレイ本体20aとを有する試験用トレイ20である。
請求項（抜粋）：
電子部品基板の基板端子が露出するように、前記電子部品基板の両側端部が移動自在に挿入される保持溝が形成してあるインサートと、前記電子部品基板の基板端子が露出するように、前記インサートを保持するトレイ本体とを有する電子部品基板試験用トレイ。
IPC (4件)：
G01R 31/28 ,  G01R 31/26 ,  H01L 21/66 ,  H05K 3/00
FI (4件)：
G01R 31/28 H ,  G01R 31/26 Z ,  H01L 21/66 D ,  H05K 3/00 T
Fターム (25件)：
2G003AA08 ,  2G003AD02 ,  2G003AG01 ,  2G003AG16 ,  2G003AH05 ,  2G032AA07 ,  2G032AB02 ,  2G032AE02 ,  2G032AJ07 ,  2G032AL03 ,  4M106AA20 ,  4M106BA14 ,  4M106CA60 ,  4M106CA62 ,  4M106DG02 ,  4M106DG03 ,  4M106DG05 ,  4M106DG24 ,  4M106DG25 ,  4M106DG30 ,  4M106DJ34 ,  9A001BB06 ,  9A001JJ48 ,  9A001KK29 ,  9A001LL05
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • IC試験装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-190855   出願人：株式会社アドバンテスト
  • 特開平4-223284

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