特許
J-GLOBAL ID：200903085595077789
粒径分布測定装置と粒径分布測定に用いる試料供給装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-195509
公開番号（公開出願番号）：特開2000-292341
出願日： 1999年07月09日
公開日（公表日）： 2000年10月20日
要約：
【要約】【課題】 500μm以上の大径の粉粒体からなる試料を精度よく測定することのできる粒径分布測定装置および粒径分布測定に好適に用いることのできる試料供給装置を提供すること。【解決手段】 粉粒状の試料Sを、空気を流動させているフローセル1に供給するとともに、このフローセル1に光Lを照射して、前記試料Sによる散乱光および/または透過光の検出出力に基づいて試料の粒径分布を測定する粒径分布測定装置において、前記フローセル1の試料導入部7に、所定の内径を有し、かつ着脱自在のサンプリング部材22を接続し、試料容器22内に収容されている試料Sを、前記サンプリング部材22の吸引ノズル26から吸引し、フローセル1内に試料Sを導入するようにしている。
請求項（抜粋）：
粉粒状の試料を、空気を流動させているフローセルに供給するとともに、このフローセルに光を照射して、前記試料による散乱光および/または透過光の検出出力に基づいて試料の粒径分布を測定する粒径分布測定装置において、前記フローセルの試料導入部に、所定の内径を有し、かつ着脱自在のサンプリング部材を接続し、試料容器内に収容されている試料を、前記サンプリング部材の吸引ノズルから吸引し、フローセル内に試料を導入するようにしたことを特徴とする粒径分布測定装置。
引用特許：
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