特許
J-GLOBAL ID:200903085602853129

共通基板上集積スキャナ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中村 稔 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-260015
公開番号(公開出願番号):特開平7-199103
出願日: 1994年10月25日
公開日(公表日): 1995年08月04日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 バーコードスキャナの構成を簡易化する。【構成】 スキャナは、共通基板上に取りつけられたレーザダイオード112及び反射光を検出する検出器120を備える。精密加工されたミラー又は、レーザダイオード112を回転させることによってレーザビームを偏向しバーコードを走査する。
請求項(抜粋):
ターゲットを横切って光を走査するための、基板上に集積された光スキャナと、前記ターゲットから反射した光を検出し、該検出された光を表す信号を発信する、前記基板上に集積されたセンサと、を備えた、共通基板上に形成された光走査システム。
IPC (3件):
G02B 26/10 101 ,  G02B 26/10 ,  G06K 7/10
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 光走査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-243785   出願人:オリンパス光学工業株式会社

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