特許
J-GLOBAL ID:200903085724900705
メモリ装置のデ-タ比較方法及びメモリ装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
井上 俊夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-248991
公開番号(公開出願番号):特開平10-078906
出願日: 1996年08月30日
公開日(公表日): 1998年03月24日
要約:
【要約】【課題】 例えばRAMに既に書き込まれているデ-タとこれから書き込もうとする新たなデータとが一致しているか否かの比較を行う場合に、少ない命令数で実行し、例えば処理速度の遅いプロセッサを用いても、システムに対応できるようにすること。【解決手段】 データの書き込みを行う場合にアドレスをアドレスバスに供給すると、例えばRAMであれば、ビットラインの途中まで前記アドレスに対応するメモリ領域内のデータが読み出される。そこでこの読み出されたデータとデータバス41上の新たなデータとをビット比較部5で比較し、その比較結果を全ビットについて判定し、こうしてデータの比較を行う。この比較は例えばアドレスが選択されている時間帯の前半に行い、後半では書き込みスイッチ部20をオンにしてデータの書き込みを行う。
請求項(抜粋):
読み出し、書き込み可能なメモリ部を備え、アドレスバスにアドレスを供給することによりそのアドレスに対応するメモリ領域に対してアクセスできるように構成されたメモリ装置において、前記アドレスバスにアドレスを供給すると共に、デ-タバスに新たなデ-タを供給する第1の段階と、前記アドレスバスに供給されたアドレスを利用して新たなデ-タの書き込み先であるメモリ領域内の旧デ-タを読み出し、読み出した旧デ-タと既にデ-タバスに供給されている新たなデ-タとを比較し、両デ-タが一致しているか否かを判定する第2の段階と、を含むことを特徴とするメモリ装置のデ-タ比較方法。
引用特許:
審査官引用 (3件)
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半導体RAM
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-267054
出願人:シャープ株式会社
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特開昭62-289999
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特開昭61-264425
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