特許
J-GLOBAL ID：200903085798137353
センサープラットホーム、そのプラットホームを組み込んだ器具、およびそのプラットホームを使用する方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青山 葆 (外3名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-508036
公開番号（公開出願番号）：特表2003-503732
出願日： 2000年07月03日
公開日（公表日）： 2003年01月28日
要約：
【要約】試料分析で使用するためのセンサープラットホームは、屈折率(n1)の基板(30)およびその基板上に屈折率(n2)の薄い、光透過性の層(32)を備えていて、(n2)は (n1)より大きい。このプラットホームは、それぞれの一つもしくはそれ以上の捕獲要素に対して一つもしくはそれ以上の検知区域を規定するところの周期性の溝(31)、(33)の形式で、一重もしくは多重の波形構造を組み込んでいる。これらの溝は、コヒーレント光がプラットホーム上に入射するときに、この光は個別のビームもしくは回折オーダーに回折して、透過ビームの減少および入射光の異常に高い反射をもたらし、それにより、それもしくはそれぞれの検知区域の表面で増強したエバネッセント場を創成するように、形状化し、寸法化しかつ配向している。共鳴条件でのこの場の振幅は、先行技術のプラットホームの場よりもおおよそ100のオーダーでより大きいので、試料からプラットホーム上に創成されるルミネセンスの強度がまた100の係数で増加する。また開示されているのは、このプラットホームを組み込んでいる器具およびこのプラットホームを使用する方法である。
請求項（抜粋）：
屈折率(n1)を有する光透過性の基板、その基板の一つの表面上に形成した薄い、光透過性の層を備えている試料分析で使用するためのプラットホームであって、当該層は(n1)より大きい屈折率(n2)を有し、当該プラットホームはその中に、それぞれの一重もしくは多重の捕獲要素に対して、一重もしくは多重の検知区域または領域を規定する周期性の溝を備えた一重もしくは多重の波形構造を組み込んでいて、当該溝はa)当該プラットホーム上に入射するコヒーレント光を個別のビームもしくは回折オーダーに回折するが、それらは干渉して透過ビームの減少および入射光の異常に高い反射をもたらし、それにより一重もしくは多重の検知区域の表面で増強したエバネッセント場を発生するか;またはb) 当該プラットホーム上に入射するコヒーレントな直線偏光を個別のビームもしくは回折オーダーに回折するが、それらは干渉して透過ビームの殆んど全部の消滅および入射光の異常に高い反射をもたらし、それにより一重もしくは多重の検知区域の表面で増強したエバネッセント場を発生するかのどちらかのように、形状化し、寸法化しかつ配向している、プラットホーム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/64 G
, G01N 21/78 C
2G043AA01
, 2G043AA04
, 2G043BA16
, 2G043CA04
, 2G043DA02
, 2G043DA05
, 2G043EA01
, 2G043GA07
, 2G043GA08
, 2G043GB01
, 2G043GB03
, 2G043GB07
, 2G043GB16
, 2G043GB21
, 2G043KA03
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G054AA06
, 2G054CA22
, 2G054CA23
, 2G054EA03
, 2G054FA13
, 2G054FA21
, 2G054FA27
, 2G054GA04
, 2G054GA05
