特許
J-GLOBAL ID：200903086066077095
パターン修正方法およびその装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡戸 昭佳 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-194346
公開番号（公開出願番号）：特開2002-016338
出願日： 2000年06月28日
公開日（公表日）： 2002年01月18日
要約：
【要約】【課題】 近接パターンとの間の必要なギャップを損なわない範囲内で特定形状の仕様上のサイズを見直し,製造しやすいようにパターンを変更するパターン修正方法およびその装置を提供すること。【解決手段】 読み込んだ回路パターンから,穴10およびランド11を抽出し,近接パターン14との間のギャップに余裕がある場合には径を拡大する。これにより,なるべく大径のドリルで穴開けできるようにする。ここで,穴10の径を,あらかじめ用意した推奨値の中から選ぶ。推奨値としては,ドリルセットの各ドリル径に合わせた値を用いる。これにより,ドリルセットにない中途半端な径を有する穴10が発生しないようにする。さらに,穴径の修正後に集計処理をして,同じ径の穴10の数が最低数に満たない場合には穴径を1段縮小する。これにより,実際に使用するドリルの本数がむやみに多くならないようにする。
請求項（抜粋）：
回路パターン中に含まれる特定形状を抽出し,抽出された特定形状とその近接パターンとのギャップを算出し,算出されたギャップをあらかじめ設定された最小値と比較し,その比較の結果に基づいて当該特定形状のサイズを見直すことを特徴とするパターン修正方法。
IPC (2件)：
H05K 3/00
, G06F 17/50 658
H05K 3/00 J
, H05K 3/00 Y
, G06F 17/50 658 M
5B046AA08
, 5B046BA04
, 5B046JA02
, 5B046KA06
