特許

J-GLOBAL ID：200903086182916762

集積回路の故障診断装置及びそれに用いる故障診断方法

発明者： 高橋 次男
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： ▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-202853
公開番号（公開出願番号）：特開2003-014827
出願日： 2001年07月04日
公開日（公表日）： 2003年01月15日
要約：

【要約】【課題】 MISRを用いてLSIの故障検出試験を実動作周波数で行う際に、1クロック以内で論理が決まらないような低速のロジック部の結果もMISRに簡単に取込み、低速ロジック部の故障検出が可能な集積回路の故障診断装置を提供する。【解決手段】 信号A〜Dは1クロック以内に収まる信号、信号Eは1クロック以内に収まらない信号とすると、信号Eが確実に安定した後に、タイミング発生部22で発生されるクロックに同期した信号Sを用いて、アンド回路23でサンプリングする。これによって、サンプリングされた信号Esがクロックに同期するので、この信号EsをMISRに入力させることで、信号Eの故障検出が可能になる。

請求項（抜粋）：

多入力帰還型シフトレジスタを用いて実動作周波数で集積回路の故障検出試験を行う故障診断装置であって、前記集積回路に供給されるクロックに同期した信号を生成する生成手段と、前記生成手段で生成された信号を用いて1クロック以内で論理が決まらない低速のロジック部の結果をサンプリングするサンプリング手段とを有することを特徴とする故障診断装置。

IPC (2件)：

G01R 31/3183 ,  G01R 31/319

FI (2件)：

G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 R

Fターム (6件)：

2G132AA01 ,  2G132AB02 ,  2G132AC11 ,  2G132AE14 ,  2G132AG08 ,  2G132AL12

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 半導体集積回路およびその応用装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-256305   出願人：株式会社東芝