特許
J-GLOBAL ID：200903086327382451

絶縁劣化診断装置

発明者：
渡辺 能康

渡辺 能康 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： 鵜沼 辰之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-002430
公開番号（公開出願番号）：特開平6-209518
出願日： 1993年01月11日
公開日（公表日）： 1994年07月26日
要約：
【要約】【目的】 劣化部位の特定が可能で、安価で、かつ信頼性の高い電気設備の絶縁劣化診断装置を提供すること。【構成】 本発明による絶縁劣化診断装置は、母線から各負荷へ電気を配分する各フィーダの微少零相電流を計測する零相電流変流器14と、増幅器17と、零相電流変流器14の出力の基本周波数のみを取り出すバンドパスフィルタ18と、増幅器17及びバンドパスフィルタ18により処理された零相電流信号を取り込み、各フィーダの零相電流ベクトル同士の内積により絶縁劣化のフィーダの特定を行う演算部19と演算部19から出力された絶縁劣化したフィーダを示す信号30及び絶縁劣化の程度を示す信号31を取り込んで診断結果を表示する20から構成される。
請求項（抜粋）：
電気設備における複数の配電フィーダの零相電流をそれぞれ個別に計測する複数の零相変流器と、前記複数の零相変流器から出力されたれ零相電流信号を取り込み、これらの複数の零相電流信号に基づいて絶縁劣化が生じた配電フィーダを特定し、かつ該特定された配電フィーダの絶縁劣化程度の判定を行う処理装置とを有することを特徴とする絶縁劣化診断装置。
IPC (2件)：
H02H 3/34 ,  G01R 31/12
引用特許：
審査官引用 (3件)

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