特許

J-GLOBAL ID：200903086662882426

校正試料の作製方法

発明者： 矢ヶ部 太郎 ,  宇治 進也
出願人/特許権者： 独立行政法人物質・材料研究機構
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-033721
公開番号（公開出願番号）：特開2006-220517
出願日： 2005年02月10日
公開日（公表日）： 2006年08月24日
要約：

【課題】 容易に特異な構造を一意に決めることができ、かつ危険な化学薬品(酸やアルカリなど)などを用いないで校正試料を得ることができる校正試料の作製方法を提供する。【解決手段】 この出願の発明による校正試料の作製方法は、(110)面を鏡面研磨したLa2CuO4単結晶を230から500°Cの温度でアニールした後、徐冷することにより、(110)面に断面が鋸歯状の凹凸を有する双晶構造の校正試料を作製することを特徴とする。【選択図】 なし

請求項（抜粋）：

(110)面を鏡面研磨したLa2CuO4単結晶を230から500°Cの温度でアニールした後、徐冷することにより、(110)面に断面が鋸歯状の凹凸を有する双晶構造の校正試料を作製することを特徴とする校正試料の作製方法。

IPC (2件)：

G01N 1/00 ,  G01N 13/16

FI (2件)：

G01N1/00 102B ,  G01N13/16 A

Fターム (10件)：

2F069AA60 ,  2F069DD26 ,  2F069FF07 ,  2F069HH30 ,  2G052AA39 ,  2G052AD32 ,  2G052AD52 ,  2G052EB11 ,  2G052GA36 ,  2G052JA04