はんだ付け検査方法、はんだ付け検査用の検査データ作成方法、およびはんだ付け検査装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：鈴木由充 , 小石川由紀乃 , 新田研太
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-087041
公開番号（公開出願番号）：特開2008-175831
出願日： 2008年03月28日
公開日（公表日）： 2008年07月31日
要約：

【課題】ティーチングを行わなくとも、個々の基板に適した検査用ウィンドウを設定し、標準検査データを用いた検査を行えるようにする。【解決手段】はんだ付け検査機2には、各種部品について、ランドの数および相対位置関係を示す情報を含む標準検査データが登録される。また前工程の部品実装機1から検査対象基板の部品実装データ(各部品の位置および部品種を示すもの)と検査対象基板のはんだ付け前の画像の提供を受ける。つぎに、自装置での撮像により生成したはんだ付け後の基板の画像とはんだ付け前の基板の画像との差画像を生成し、この差画像と部品実装データおよび標準検査データを用いて、各部品に適合するはんだ付け部位を抽出する。さらにこの抽出結果に基づき、はんだ付け後の基板の画像の各はんだ付け部位に検査用ウィンドウを設定し、対応する部品種の標準検査データを用いた検査を実行する。【選択図】図13

請求項（抜粋）：

基板上のはんだ付け状態を検査する方法において、各種部品についてそれぞれはんだ付け部位の数および各はんだ付け部位の相対位置関係を示す情報を含む標準検査データを登録するステップと、検査対象の基板上の各部品の位置および部品種を示す実装部品データを取得するステップとを、あらかじめ実行し、検査対象の基板をはんだ付け前およびはんだ付け後にそれぞれ撮像し、各撮像により生成された画像間の差異に基づき前記基板上のはんだ付け部位の分布状態を表す差画像を生成し、

IPC (3件)：

G01N 21/956 , H05K 13/08 , H05K 3/34

FI (3件)：

G01N21/956 B , H05K13/08 U , H05K3/34 512B

Fターム (16件)：

2G051AA61 , 2G051AA65 , 2G051AB02 , 2G051AB14 , 2G051BA01 , 2G051BA08 , 2G051CA04 , 2G051CB01 , 2G051EA08 , 2G051EA11 , 2G051EA12 , 2G051EA17 , 2G051EB02 , 2G051EB09 , 5E319CD53 , 5E319GG15

引用特許：

出願人引用 (4件)

特許第2570239号公報
特開昭62-182809
検査データ作成方法およびこの方法を用いた基板検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-228181 出願人：オムロン株式会社

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